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半導體專用可程式恒溫恒濕試驗箱。廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等試驗樣品做高低溫例行試驗、耐寒試驗、高低溫交變試驗、低溫儲存，以便在擬定環(huán)境條件下進行試驗儲存后對產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評價
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